2025年1月22日～24日の3日間、東京ビッグサイトにて開催されました
「第39回ネプコンジャパン」では多くの方に弊社ブースにお越しいただきました。
ご来場まことにありがとうございました。
今回実機展示をいたしました製品についてご紹介いたします。
■接触式段差計 NanoTexture NTシリーズ
ユーザー様のご要望にお応えし、半導体業界向けに改良を加えた、
接触式段差計 NTシリーズの実機を展示いたしました。
【特徴】
・X、Y方向両軸測定 ワークの置き直しが不要
→指定領域一括測定、測定時間の短縮
作業者が他の業務を行える、タクトタイムの短縮
・ワイドレンジ検出器 世界最高1,300μm
→テーブルのレベリングが不要、大きな反り測定も可能
※オプションのZ追従で20mm以下の反り測定も可能
■微細穴三次元形状測定機 FP-Labo（パネル展示）
世界で初めて半導体Si貫通電極（TSV）などの微細穴に対し非破壊計測を実現
難度の高い測定も可能とする装置です。
・Φ10μm～の穴を深さ300μmまで測定可能
・低測定圧0.1μN以下を実現
・レシピ作成により自動測定可能
■表面粗さ測定機 SE500pro
解析機能を簡素化・迅速化！
専用テンキーで測定から解析まで2ステップで完了
また直感的に判別できるOK・NG判別機能を搭載しています。
製品についてご質問・ご相談がある方はお気軽にお問い合わせください。
※お問い合わせは
こちらから！